{{ isErrorSetToBasket === false ? 'Товар добавлен вкорзину' : 'Не удалось добавить товар в корзину'}}
Перейти в корзину
{{Object.keys(error)[0]}}:
{{Object.values(error)[0]}}
Цена По запросу
Количество
Вы уже добавили максимально доступное на складе кол-во товара
Достигнуто максимально доступное кол-во
Под заказ
{{!!storageProduct ? 'На складе' : 'Под заказ'}}
Ожидается поставка
Pike Technologies 80 Spec подходит для измерения скользящего угла зеркального отражения относительно тонких пленок и мономолекулярных слоев с помощью зеркального отражения. Образцы кладут лицевой стороной вниз через верхнюю часть прибора и измеряют спектр пленки.
Как правило, измерение ультратонких пленочных образцов, особенно монослоев, значительно улучшается при использовании P-поляризованного света, причем вектор электрического поля перпендикулярен поверхности образца.
Прибор 80 включает в себя крепления поляризаторов как на входящих, так и на исходящих лучах для установки дополнительных ручных или автоматических ИК-поляризаторов от PIKE Technologies.
• Измерение тонких пленок и мономолекулярных слоев;
• Фиксированный угол падения 80 градусов;
• Светоотражающие оптические утройства с золотым покрытием обеспечивают высочайшую пропускную способность энергии.