Спектрофотометр УФ-видимого / ближнего инфракрасного диапазона UH4150

Особенности:

Небольшие перепады уровней сигнала при переключении детектора обеспечивают высокоточные измерения даже при переключении длины волны детектора.
В интегрирующей сфере установлено несколько детекторов для выполнения измерений в широком диапазоне длин волн, от ультрафиолетового до видимого и ближнего инфракрасного диапазонов. Изменения фотометрических значений при переключении детекторов (из-за разницы уровней сигналов) сводятся к минимуму благодаря конструкции, в которой используется опыт Hitachi в интеграции сферической конструкции, технологий обработки сигналов и т.д.

Низкий уровень рассеянного света и низкая поляризация достигаются с помощью высокоэффективной системы двойного монохроматора Hitachi с призматической решеткой.
UH4150 использует оптическую систему с двойным монохроматором с призматической решеткой (P-G), продолжая зарекомендовавшую себя оптическую систему U-4100. Большие изменения интенсивности света S- и P-поляризации менее вероятны для системы призма-решетка (P-G), чем для обычно используемой системы решетки-решетки (G-G). UH4150 предлагает измерения с низким уровнем шума даже для образцов с низким коэффициентом пропускания и отражения.

Коллимированный световой луч позволяет точно измерять отраженный и рассеянный свет.
Угол падения важен для измерения зеркального отражения твердых образцов. Для сфокусированного светового луча угол падения изменяется в зависимости от фокусного расстояния линзы и т.д. Следовательно, значения моделирования конструкции оптических тонких пленок, таких как диэлектрическая многослойная пленка и призма, будут отличаться от фактических измеренных значений. Однако в случае коллимированного светового луча угол падения всегда одинаков по отношению к образцу, что приводит к высокоточному измерению зеркального отражения. Кроме того, коллимированный световой луч полезен для оценки коэффициента диффузии (мутности) и измерения коэффициента пропускания линз.

Широкий выбор детекторов дает возможность выбора детекторов, подходящих для целей измерения.
Доступны восемь типов интегрирующих сфер из разных материалов, размеров и форм. * 2 * 3

Принят новый эргономичный дизайн.
Дверца отсека для образцов модифицирована для улучшения работы. Эргономичный дизайн принят с учетом операции замены образцов и принадлежностей.

Совместим со многими аксессуарами U-4100.
Для обеих моделей доступны общие аксессуары. Аксессуары, используемые с моделью U-4100, также могут использоваться с моделью UH4150 * 4. Поскольку аксессуары съемные, они помогают приспособить более широкий диапазон типов измерений.

Пропускная способность выше, чем у модели U-4100.
Поддерживая высокопроизводительную оптическую систему модели U-4100, UH4150 обеспечивает более высокую пропускную способность. В предыдущей модели скорость сканирования 600 мм / мин была необходима для измерения с использованием интервала данных 1 нм. Модель UH4150 позволяет выполнять измерения с интервалом в 1 нм при скорости сканирования 1200 нм / мин, что значительно сокращает время измерения. * 5 UH4150 измеряет от 240 до 2600 нм примерно за две минуты. Он эффективен для образцов, требующих измерения в диапазоне длин волн UV-VIS-NIR, таких как материалы, отражающие солнечное излучение.

Автоматическая система измерения.
Мы взяли три популярные периферийные системы для спектрофотометра UH4150 - автоматическую систему измерения абсолютного коэффициента отражения с переменным углом, автоматические системы измерения поляризации и систему измерения коэффициента отражения / пропускания 5 градусов с автоматическим XY-столиком - и преобразовали их в автономные системы, которые могут быть приобретается индивидуально.